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美国科诺研制版本光学接触角仪中标香港科技大学纳米与先进材料研究院

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美国科诺研制版本光学接触角仪中标 "香港科技大学纳米与先进材料研究院"。这是科诺产品推向应用用户的一个新里程,也是对科诺产品的性能、技术、服务的一个肯定。

美国科诺将继续加大亚太地区的研发投入,与广大用户和同行一起不断提升光学法界面化学分析的关键技术,扩大界面化学分析仪器应用范围。
比如,美国科诺已经在界面化学Young-lalapalace方程拟合技术上取得重大突破,不久就将全面引入第四代真实液滴法(TrueDrop) Y-L方程拟合求解界面张力、振荡分析、接触角分析的技术。这是一种突破,实现了由BA表*代拟合技术和1996年德国柏林理工大学的Spinger教授提出的基于“B”概念的Young-Lapalace方程拟合法的第二代拟合技术,至Newmann教授的龙格库拉解法下的第三代拟合技术,向第四代基于真实液滴法(RealDropTM)法的Young-Lapalace拟合技术全面突破。第四代技术的关键点在于,我们将全面利用美国科诺强大的图像分析技术,真正解决*代与第二代技术的经验性假设误差、第三代技术自动化程度的关键问题,从而提高了分析速度、重复性、人为因素影响等对界面张力测值的影响。此时,zui明显的表现是,我们不再像第二代技术那种必须假设取得理想的B=0.7时需要根据经验和估算界面张力值,选用相应针头的问题。我们认为,界面张力测值与针头的直径的选取就是一个经验判断。这个判断会造成相当的误差与人为影响。

 

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